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HP-CHY-L镀铝膜测厚仪
工作原理:
铝膜测试仪利用涡流原理制造,即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时,感应产生涡电流,因而产生涡流磁场,此涡流磁场反作用于原来激磁磁场,阻抗发生变化,然后通过检测电路并进行放大,输出与厚度相对应模拟电压。为了减少漂移即减少重复性误差和提高测量准确度,本仪器应用智能功能单片机系统,即对测厚过程中非线性和零漂进行校正,因而提高了测量准确度。
技术参数:
可测量范围: 测量直径不小于100㎜×200㎜
量程范围: 0-1000埃
分辨率: 10埃
测量准确度: ≤±3%(F.S)
仪器尺寸:400x320 x 120 mm
重 量 :7公斤
镀铝膜测厚仪配置:
镀铝膜测厚仪壹台,校正片一片,电缆线一根。